冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)置本試驗(yàn)箱適用于考核產(chǎn)品（整機(jī)）、元器件、零部件等經(jīng)受溫度急劇變化的能力，該溫度沖擊試驗(yàn)?zāi)軌蛄私庠囼?yàn)樣品次或連續(xù)多次因溫度變化而帶來(lái)的影響。影響溫度變化試驗(yàn)的主要參數(shù)為溫度變化范圍的高溫和低溫溫度值、樣品在高溫和低溫下的保持時(shí)間、以及試驗(yàn)的循環(huán)次數(shù)等因素。
高低溫沖擊箱技術(shù)參數(shù)：
型號(hào)：
AP-CJ-50內(nèi)箱尺寸：350×350×400外箱尺寸：1560×1750×1440
AP-CJ-80內(nèi)箱尺寸：500×400×400外箱尺寸：1700×1800×1440
AP-CJ-100內(nèi)箱尺寸：600×400×400外箱尺寸：1800×1800×1440
AP-CJ-150內(nèi)箱尺寸：600×500×500外箱尺寸：1800×1900×1540
AP-CJ-250內(nèi)箱尺寸：700×600×600外箱尺寸：1900×2000×1640
AP-CJ-480內(nèi)箱尺寸：800×800×750外箱尺寸：2020×2250×2150
溫度范圍：A:-40~ 150℃；B:-55~ 150℃；C:-65~ 150℃
溫度偏差：±2℃
溫度波動(dòng)度：±0.5℃。 
溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。 
溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   
高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間：30min (+25℃～+200℃)。 
低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間：65min (+25℃～-75℃)。
加熱系統(tǒng):鎳鉻合金不銹管加熱器
制冷系統(tǒng):采原裝歐美進(jìn)口率壓縮機(jī)
循環(huán)系統(tǒng):采日制多翼離心式循環(huán)風(fēng)扇
控制系統(tǒng):大屏原裝彩色液晶觸摸屏控制器
內(nèi)箱材質(zhì):SUS#304 不銹鋼板
外箱材質(zhì):SUS#304紗面不銹鋼或冷扎鋼噴塑處理
保溫材質(zhì):硬質(zhì)聚胺脂發(fā)泡+玻璃棉
冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)置滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫；GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫；GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則；GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗(yàn)方法 方法107 溫度沖擊試驗(yàn)。